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涂層膜厚儀

簡要描述：德國EPK MiniTest1100涂層膜厚儀/測膜儀是minitest系列中Z經(jīng)濟(jì)型的一款，可以配備所有系列探頭，EPK MiniTest1100配備磁性探頭可以測量磁性金屬基體上面的非磁性涂鍍層；配備渦流探頭可以測量非磁性金屬基材上面的非導(dǎo)電涂層。

產(chǎn)品型號：德國EPK MiniTest1100
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2025-07-02
訪問量：2039

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產(chǎn)品詳情

德國EPK MiniTest1100涂層膜厚儀/測膜儀系列MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；EPK(Elektrophysik)MiniTest系列所有型號均可配所有探頭。
德國EPK MiniTest1100涂層膜厚儀/測膜儀技術(shù)規(guī)格：

型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))	1	1	10	99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計計算，并可設(shè)寬容度極限值)		1	10	99
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)		1	500	500
數(shù)據(jù)總量	1	10000	10000	10000
德國EPK MiniTest系列統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar		√	√	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar			√	√
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk			√	√
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)				√
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值			√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間		√	√	√
德國EPK MiniTest系列其他功能
設(shè)置極限值			√	√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值			√	√
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)			√	√
連續(xù)測量模式中顯示zui小值			√	√

德國EPK MiniTest1100/測膜儀

德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù)：所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

探頭		量程	低端分辨率	誤差	zui小曲率半徑 (凸/凹)	zui小測量區(qū)域直徑	zui小基體厚度	探頭尺寸
磁感應(yīng) 法	F05	0-500μm	0.1μm	±(1%±0.7μm)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F2/90	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±(1%±10μm)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±(1%±10μm)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±(3%±50μm)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面	30mm	F0.5mm/N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50μm	φ15x62mm
電渦流法	N02	0-200μm	0.1μm	±(1%±0.5μm)	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±(1%±1μm)	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N2	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	1.5/10mm	5mm	50μm	φ15x62mm
	N2/90	0-2000μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±(1%±25μm)	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±(1%±50μm)	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±(1%±1μm)	平面	7mm	無限制	φ17x80mm

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

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